ЧИСЛЕННЫЙ АНАЛИЗ ФОРМИРОВАНИЯ ОДНОРОДНЫХ ВОЛОКОННЫХ БРЭГГОВСКИХ РЕШЕТОК С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ФАЗОВОЙ МАСКИ
DOI:
https://doi.org/10.52167/1609-1817-2022-121-2-508-515Ключевые слова:
Волоконно-оптические датчики, волоконные решетки Брэгга, численный анализАннотация
В данной работе разработан численный анализ формирования однородных волоконных брэгговских решеток с использованием фазовой маски. Был разработан способ записи брэгговской решетки с использованием однородной фазовой маски, которая характеризуется тем, что она состоит из ультрафиолетового эксимерного лазера, выходного луча лазерного света, направленного на систему подвижных диафрагм с регулируемым зазором между ними и расположенным за системой подвижных диафрагм однородной фазовой маской, за которой находится фоточувствительное многомодовое оптическое волокно с наклонной решеткой Брэгга. В исследовании применена теория дифракции для анализа распределения интенсивности в сердцевине волокна во время изготовления волоконной брэгговской решетки (ВБР) с использованием однородной фазовой маски. Было рассчитано усредненное распределение дифракционного поля в сердцевине волокна как функция положения оптического волокна. Результаты показывают, что в случае изготовления однородных ВБР усредненный профиль интенсивности поля, а также изменения показателя преломления в сердцевине волокна имеют сложную форму. Также было рассчитано, что влияние положения оптического волокна за фазовой маской на среднюю интенсивность распределение в сердцевине волокна уменьшается с увеличением его диаметра.
Библиографические ссылки
[1] A. Othonos, K. Kalli, Fiber Bragg Gratings, Fundamentals and Applications in Telecommunications and Sensing, first, Artech House Optoelectronics Library, 1999.
[2] R. Kashyap, Fiber Bragg Gratings, first. Academic Press, 1999.
[3] J. Albert, K.O. Hill, B. Malo, S. Thériault, F. Bilodeau, D.C. Johnson, L.E. Erickson, Electron. Lett 31 (1995) 222–223.
[4] M. Guy, J. Lauzon, M. Pelletie, P. Ehbets, D. Asselin, ECOC'97, 1997, pp. 195–198.
[5] J. Albert, K.O. Hill, D.C. Johnson, F. Bilodeau, H.J. Rooks, Electron. Lett 32 (1996) 2260–2261.
[6] H. Singh, W.W. Morey, LEOS'97, 1997, pp. 75–77.
[7] K.O. Hill, B. Malo, F. Bilodeau, D.C. Johnson, J. Albert, Appl. Phys. Lett. 62 (1993) 1035–1037.
[8] Z. Xiong, G.D. Peng, B. Wu, P.L. Chu, J. Lightwave, Technol. 17 (1999) 2361–2365.
[9] P.E. Dyer, R.J. Farley, R. Gidle, Opt. Commun. 115 (1995) 327–334.
[10] Y. Qiu, Y. Sheng, C. Beaulieu, J. Lightwave, Technology 17 (1999) 2366–2370.
[11] T. Osuch, Z. Jaroszewicz, Phot. Lett. Pol. 1 (2009) 190–192.
[12] Z. Jaroszewicz, A. Kolodziejczyk, A. Kowalik, R. Restrepo, Optik 111 (2000) 207–210.
[13] J.W. Goodman, Introduction to Fourier Optics, second. McGraw-Hill, 1996.
[14] M. Sypek, Opt. Commun. 116 (1995) 43–48.
[15] M. Sypek, C. Prokopowicz, M. Gorecki, Opt. Eng. 42 (2003) 3158–3164.
[16] T. Osuch, Z. Jaroszewicz, A. Kołodziejczyk, Proc. SPIE 6187 (2006) (61871G-1– 61871G-9).
Загрузки
Опубликован
Как цитировать
Выпуск
Раздел
Лицензия
Copyright (c) 2022 Алия Калижанова, Айнур Козбакова, Мурат Кунелбаев , Жалау Айткулов, Жазира Амиргалиева
Это произведение доступно по лицензии Creative Commons «Attribution-NonCommercial-NoDerivatives» («Атрибуция — Некоммерческое использование — Без производных произведений») 4.0 Всемирная.
